衍射检测

检测项目

1.物相定性与定量分析：未知物相鉴定，多相混合物中各相含量测定，同质多晶型分析。

2.晶体结构解析与精修：晶格常数精确测定，晶体空间群确定，原子占位与热振动参数分析。

3.残余应力与微观应变检测：表面与体相残余应力测量，微观应变分布测试，应力梯度分析。

4.织构与择优取向分析：板材丝织构测定，晶粒取向分布函数计算，极图与反极图绘制。

5.薄膜与涂层结构表征：薄膜厚度与密度计算，界面结构分析，结晶度与取向度测试。

6.纳米材料晶粒尺寸与畸变：纳米晶粒尺寸计算，晶格畸变程度分析，谢乐公式应用。

7.高温与原位相变研究：材料随温度变化的相变过程监测，热膨胀系数测定，高温结构稳定性测试。

8.晶体缺陷与有序度分析：点阵缺陷类型研究，长程有序度测定，短程有序现象分析。

9.高分子材料结晶度分析：聚合物结晶度计算，结晶形态研究，非晶散射背景分析。

10.矿物与地质样品分析：矿石物相组成鉴定，粘土矿物定性定量，地质成因环境反演。

11.催化材料结构表征：催化剂活性相鉴定，载体与活性组分相互作用研究，孔结构间接分析。

12.电池电极材料分析：电极材料充放电过程中的结构演变研究，相变机制分析，晶格参数变化追踪。

检测范围

金属及合金材料、无机非金属陶瓷、水泥与混凝土制品、各类催化剂、功能涂层与薄膜、半导体材料、锂离子电池正负极材料、矿物岩石与土壤、制药原料与晶型、高分子聚合物、碳纤维及复合材料、玻璃与非晶态物质、考古与文物样品、工业粉末与浆料、腐蚀产物与沉积物、磁性材料、超导材料、人工骨骼与生物陶瓷

检测设备

1.X射线衍射仪：用于常规粉末、块体及薄膜样品的物相与结构分析；配备常规铜靶X光管，可进行θ-2θ联动扫描。

2.高分辨率X射线衍射仪：用于单晶、完美晶体及外延薄膜的高精度结构分析；具备四晶单色器，能获得高角分辨率与低发散度的X射线。

3.微区X射线衍射仪：用于样品特定微小区域的结构分析；配备高精度光学定位系统与微聚焦X射线源，可实现微米级空间分辨率。

4.掠入射X射线衍射仪：专用于薄膜、表面及界面层的结构表征；采用小角度入射方式，可有效抑制基体信号，突出表面信息。

5.织构测角仪：用于材料宏观织构与微观取向的定量分析；配备欧拉环样品台，可实现样品在三维空间内的任意旋转。

6.高温原位衍射附件：用于样品在高温或可控气氛下的动态结构变化研究；集成高温炉与气氛控制系统，温度范围可达摄氏一千六百度。

7.应力分析测角仪：专用于材料表面残余应力的无损测量；基于sin²ψ法原理，可计算应力大小与方向。

8.小角X射线散射仪：用于纳米尺度结构分析，如纳米颗粒尺寸分布、孔隙结构及高分子链构象；测量极低角度区域的散射强度。

9.二维面探X射线衍射系统：用于快速数据采集与各向异性样品分析；采用平面探测器，可一次性获取德拜环信息，大幅提升检测效率。

10.多功能样品台：用于承载各类形态与尺寸的样品，并实现旋转、倾斜等动作；包含粉末样品台、薄膜样品架、毛细管样品架及拉伸台等多种附件。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.